Регистрация Забыли свой пароль?
Войти как пользователь
Вы можете войти на сайт, если вы зарегистрированы на одном из этих сервисов:

Дифракционный метод

Дифракционный метод, как следует из названия, основывается на эффекте дифракции – отклонения от закона геометрической оптики при распространении волн в среде. Световые волны, проходя сквозь или отражаясь от пленок и поверхностей, интерферируют и, попадая на экран или сенсор, образуют дифракционную картину. По этой картине можно судить о строении, кристаллографической ориентации, наличии дефектов, величине постоянной решетки и других кристаллографических параметрах вещества.

difr1.jpgdifr1-1.jpg
Рис 1. Схематическое изображение распространения света через дифракционную решетку. Слева – то, что мы должны наблюдать, если бы выполнялись законы геометрической оптики. Справа – результат дифракции

Камеры и сенсоры при использовании такого метода могут применяться в различных конфигурациях, выступая как непосредственно в качестве детектора, так и снимая люминесцентный экран. На данный момент можно выделить пять основных методов дифракционных исследований:

1) Рентгеноструктурный анализ (позволяет определить положение атомов относительно друг друга; применяется как для исследований простейших веществ, так и сложных белковых соединений)

difr2.jpg

Рис 2. Дифракционная картина, наблюдаемая израильским ученым Денном Шехтманом, за которую в 2011 году он получил нобелевскую премию по химии. Картина получилась в результате исследования сплава алюминия и марганца – квазикристаллической структуры. Кристаллическая решетка имеет форму икосаэдра, что ранее считалось невозможным

2) Газовая электронография (позволяет определить положение свободных молекул в газе; в отличие от твердых веществ, в газообразных веществах влияние соседних молекул пренебрежимо мало)

3) Дифракция электронов (на данный момент один из основных методов исследования твердых кристаллических тел)

4) Нейтронография (позволяет определить положение ядер; в основе данного метода лежит рассеяние именно на ядрах, в отличие от остальных, где рассеяние происходит главным образом на электронных оболочках)

5) Дифракция отраженных электронов (метод, на котором базируется устройство сканирующего электронного микроскопа; сканирование производится пучком электронов)